Программа курса:
Дефекты в полупроводниках
составил д.ф.-м.н., профессор Якимов Е.Б.
- Введение. Классификация дефектов. Влияние дефектов на механические, оптические и электрические свойства полупроводников.
- Собственные точечные дефекты. Пары Френкеля. Свойства собственных точечных дефектов в кристаллах кремния.
- Термодинамика дефектов. Концентрация дефектов при термодинамическом равновесии.
- Генерация собственных точечных дефектов в полупроводниках. Радиационные дефекты. Подпороговые механизмы генерации собственных точечных дефектов.
- Примесные атомы. Мелкие донорные и акцепторные центры. Центры с глубокими уровнями. Взаимодействие примесей с собственными точечными дефектами.
- Диффузия точечных дефектов в полупроводниковых кристаллах. Влияние собственных точечных дефектов на диффузию примесей. Радиационно-ускоренная миграция.
- Методы исследования свойств дефектов в полупроводниковых кристаллах. Электронный парамагнитный резонанс. Фотопроводимость и фотолюминесценция. Оптическое поглощение.
- Электрические свойства точечных дефектов. Эффект Холла. Влияние на время жизни и диффузионную длину неравновесных носителей заряда.
- Захват и эмиссия носителей заряда на центры с глубокими уровнями. Релаксационная спектроскопия глубоких уровней. Процессы безызлучательной рекомбинации. Эффект Френкеля-Пула.
- Дисторсия решетки. Эффект Яна-Теллера. Конфигурационная метастабильность точечных дефектов.
- Взаимодействие водорода с другими дефектами в полупроводниковых кристаллах. Пассивация электрически активных дефектов. Формирование электрически активных водородсодержащих дефектов.
- Кремний для современной микроэлектроники. Диагностики совершенных полупроводниковых кристаллов.
- Формирование и электронные свойства основных радиационных дефектов в кремнии.
- Протяженные дефекты. Дислокации. Границы зерен и малоугловые границы. Методы выявления протяженных дефектов.
- Дислокации и механические свойства полупроводников. Подвижность дислокаций в полупроводниковых кристаллах.
- Электронные свойства протяженных дефектов. Особенности заполнения электронных состояний протяженных дефектов. Формирование электростатического барьера вблизи протяженных дефектов.
- Влияние протяженных дефектов на макроскопические характеристики полупроводниковых материалов. Анизотропия переноса носителей заряда. Эффективное время жизни носителей заряда.
- Инженерия дефектов в полупроводниковых материалах. Механизмы геттерирования.
Литература:
- В.В. Емцев, Т.В. Машовец. Примеси и точечные дефекты в полупроводниках.
- Ж. Бургуэн, М. Ланно. Точечные дефекты в полупроводниках.
- Г.Матаре. Электроника дефектов в полупроводниках.
- В.Л. Бонч-Бруевич, С.Г. Калашников. Физика полупроводников.