конференция

Направления:

1.Новые методы просвечивающей/растровой электронной микроскопии, электронной дифракции и микроанализа. Hовые приборы, элементы электронной оптики, детекторы и обработка изображений.

2.Крио-ЭМ и применение электронной, конфокальной сканирующей микроскопии в биологии и медицине.

3.Электронная микроскопия, электронная дифракция и микроанализ в исследовании новых материалов.

4.Растровая электронная и ионная микроскопия. In-situ исследования в РЭМ.

5.Методы электронной микроскопии и микроанализа в исследовании предметов культурного наследия.

6.Сканирующая зондовая микроскопия.

7.Исследование сверхбыстрых процессов, фемтосекундная микроскопия, динамическая электронная кристаллография.

8.Электронная и ионная литография. Микроскопия в современных технологиях.

9.Электронная микроскопия в химии, геологии и материаловедении

Приглашенные иностранные докладчики:

Берниер-ЛатманиР.(Швейцария)

Боргардт Н.И.  (Зеленоград, Россия)

Буффа Ф.(Швейцария)

Ван Тенделоо Г. (Антверпен, Бельгия)

Вебер УюДж. (Германия)

Дударев С. Н.    (Кэмбридж, Англия)

Эйндоу М. (США)

Маркс Л. (Чикаго, США)

Маше Л.  (Тель-Авив, Израиль)

Николопулос С. (Брюссель, Бельгия)

Олейников П. (Швеция)

Стэйдельман П. (Швейцария)